Рассмотрены методы внутрисхемного тестирования (ICT), структурной диагностики (DFT) и функционального контроля радиоэлектронных систем, в том числе эффективный метод контроля цифровых устройств-сигнатурный анализ.

Для просмотра содержимого дисциплины необходимо установить редактор чтения защищенных PDF файлов из раздела ПРИЛОЖЕНИЕ.

• Course creator: Альфия Баталова
• Course creator: Вадим Николаевич Конюхов
• Course creator: Дмитрий Владимирович Корнилин
• Course creator: Илья Александрович Кудрявцев
• Course creator: Дарья Лизункова
• Course creator: Владимир Сергеевич Павельев
• Course creator: Вячеслав Дмитриевич Паранин
• Course creator: Алексей Владимирович Пияков
• Course creator: Иван Александрович Тимбай
• Course creator: Александр Александрович Федотов
• Course creator: Ольга Петровна Чегодаева
• Student: Александр Курицкий